簡(jiǎn)要描述：DX系列X射線(xiàn)衍射儀設計精密，硬件、軟件功能齊全，能靈活地適用于物質(zhì)微觀(guān)結構的各種測試、分析和研究。根據實(shí)際任務(wù)的需要，可以安裝各種特殊功能的附件及相應控制和計算軟件，組成具有特殊功能的衍射儀系統。
產(chǎn)品型號：DX系列廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2023-11-18訪(fǎng) 問(wèn) 量：3204| DX系列X射線(xiàn)衍射儀設計精密，硬件、軟件功能齊全，能靈活地適用于物質(zhì)微觀(guān)結構的各種測試、分析和研究。根據實(shí)際任務(wù)的需要，可以安裝各種特殊功能的附件及相應控制和計算軟件，組成具有特殊功能的衍射儀系統。 | ||||
| ●硬件系統和軟件系統的*結合，滿(mǎn)足不同應用領(lǐng)域學(xué)者、科研者的需要； ●高精度的衍射角度測量系統，獲取更準確的測量結果； ●高穩定性的X射線(xiàn)發(fā)生器控制系統，得到更穩定的重復測量精度； ●程序化操作、一體化結構設計，操作簡(jiǎn)便、儀器外型更美觀(guān)。 | ||||
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| 可對單晶、多晶和非晶樣品進(jìn)行結構分析，如物相定性和定量分析（RIR定量、內部標準法、外部標準法、標準添加法），衍射譜圖指標化及點(diǎn)陣參數測定，晶粒尺寸及點(diǎn)陣畸變測定，衍射圖譜擬合修正晶體結構（WPF），殘余應力測定，織構分析（ODF表示立體極圖），結晶度、薄膜測定。 | ||||
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| 對衍射數據進(jìn)行常規處理：自動(dòng)尋峰、手動(dòng)尋峰、積分強度、Kα1、α2剝離、背景扣除、平滑、峰形放大、多重繪圖、3D繪圖、已知晶體理論結構，模擬出XRD衍射譜圖等; | ||||
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| 通過(guò) Pseudo-Voigt函數或是利用Pearson-VII函數對重疊峰擬合分解，確定單一衍射峰的參數，同時(shí)計算結晶度、晶粒尺寸、二類(lèi)應力等。 | ||||
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| 定性、定量分析確定樣品物相組成后，使用Rietveld方法，計算出各種物相含量的百分比（無(wú)標標定量分析）。 | ||||
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| 全譜擬合定性分析、精確定量分析峰形分析研究晶體雜質(zhì)、位錯、晶界、點(diǎn)陣畸變等微觀(guān)結構。 | ||||
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| 數據處理軟件與Windows相連接，對將要輸出的圖譜可以使用標注、放大、縮小等功能進(jìn)行版面設計，也可以使用Windows操作進(jìn)行剪切、粘貼。 | ||||
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| 廣角測角儀一般是針對粉末樣品、塊狀樣品定性和定量分析而設計的。但隨著(zhù)材料研究的深入，越來(lái)越多的板材、塊狀材料及基體上的膜也要求用X射線(xiàn)衍射分析，集成測量附件就是為了滿(mǎn)足這些需要而設計的。在廣角測角儀上安裝集成測量附件可以進(jìn)行織構、應力、薄膜、定量分析等測試，每一種測試功能都有相應的計算軟件。 | ||||
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| 應用領(lǐng)域： ●碾軋板（鋁板、鐵板、銅板等）織構測量及評價(jià)（極圖、反極圖、ODF計算） 特點(diǎn)： ●極圖測試裝置（有反射法、透射法、γ擺動(dòng)） | ||||
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| α軸轉動(dòng)范圍：－45°～90° zui小轉動(dòng)步距0.001°/步 β軸轉動(dòng)范圍：360° zui小轉動(dòng)步距0.005°/步 γ軸轉動(dòng)范圍：±8mm 水平45°方向擺動(dòng) Z軸轉動(dòng)范圍：10mm zui小移動(dòng)步距0.005mm/步 集成測量附件配置有高分辯率平行光光學(xué)系統，克服了聚集光學(xué)系統的缺點(diǎn)。平行光光學(xué)系統可以解決測量角度誤差、衍射峰不對稱(chēng)、分辯率低等問(wèn)題。尤其適用于材料殘余應力、有機材料、薄膜、鍍膜等樣品分析。 | ||||
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| 織構使多晶材料呈現各向異性，利用織構改善和提高材料的性能、充分發(fā)揮材料性能潛力是材料科學(xué)研究重要的工作之一。雖然檢測材料織構的方法很多，但是zui廣泛應用的還是X射線(xiàn)衍射技術(shù)。 |
| 集成測量附件應用于退火鋁的織構測試。分別測量出111、200、220三張極圖，使用計算軟件繪制的反極圖和立體極圖（ODF圖） | ||||||||||||||||||
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| 集成測量附件應用于鋼的殘余應力測試，Psi角膜式，-45°～90°范圍內取點(diǎn)對稱(chēng)測量2θ角峰位，計算正向、反向測試應力值，取平均值為應力測量結果。 | ||||||||||||||||||
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| 纖維樣品測量附件安裝在廣角測角儀上。安裝纖維樣品或將纖維樣品安裝后拉伸，用透射法或是反射法測試晶體結構或是晶體結構的變化，適用于木材、纖維等樣品的纖維組織測量。 | ||||||||||||||||||
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| 使用聚焦光學(xué)系統一般無(wú)法測量薄膜樣品，但采用平行光光學(xué)系統和樣品旋轉附件、將θ軸固定、低角度入射、使用平晶單色器反射、保持樣品內旋轉的方法，除掉來(lái)自基體的強X射線(xiàn)，可以高效率地探測到薄膜衍射線(xiàn)。 | ||||||||||||||||||
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| 該裝置主要用于顯微鏡、電子探針、能譜儀、衍射儀、熒光光譜儀等實(shí)驗室設備所需要的恒溫水源。它運用壓縮機制冷原理，采用封閉內循環(huán)水循環(huán)，自動(dòng)控制制冷系統工作，對儀器需要冷卻部件進(jìn)行熱交換，使儀器在*溫度下穩定工作。 技術(shù)參數
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